FK-CL3智(zhi)能塵埃粒(li)子計數器，其置信(xin)度測量(liang)檢定標(biao)準按(an)照國標(biao)GB/T6167-2007和校準規范(fan)JJF1190-2008規定的(de)(de)條(tiao)件，對凈化(hua)級別進行自動判斷。一次(ci)采樣可同(tong)時測得六(liu)個(ge)粒(li)徑(jing)(jing)通(tong)道的(de)(de)塵埃粒(li)子數，并同(tong)時顯示六(liu)個(ge)粒(li)徑(jing)(jing)通(tong)道粒(li)子的(de)(de)數目及其變(bian)化(hua)情況。

滿(man)足醫(yi)藥行業（制藥廠(chang)、藥檢(jian)所(suo)、醫(yi)院手術室(shi)(shi)等(deng)(deng)）；電子行業（半導體工廠(chang)、精(jing)密機械的(de)(de)(de)生產(chan)加工等(deng)(deng)）；食(shi)品(pin)(pin)衛生行業（乳制品(pin)(pin)、塑封肉(rou)食(shi)品(pin)(pin)、調(diao)味(wei)食(shi)品(pin)(pin)、農產(chan)品(pin)(pin)等(deng)(deng)的(de)(de)(de)精(jing)加工）；過(guo)濾(lv)器的(de)(de)(de)生產(chan)廠(chang)家，檢(jian)驗過(guo)濾(lv)器的(de)(de)(de)質量(liang)及(ji)(ji)效率(lv)等(deng)(deng)；光學(xue)、及(ji)(ji)航空航天(tian)等(deng)(deng)領域的(de)(de)(de)精(jing)加工、精(jing)密試驗所(suo)需(xu)的(de)(de)(de)潔(jie)凈室(shi)(shi)（區）的(de)(de)(de)檢(jian)測需(xu)要。

國家(jia)標準：GB/T6167-2007塵埃(ai)粒(li)子計數器性能試驗方法

潔凈度等(deng)級(ji)判定標準：ISO14644 FS209E ，新版GMP（動態/靜態）

校準規范：JJF-1190-2008

1、安卓系統7.1版本(ben)，操作交互體驗更(geng)好(hao)。

2、內置溫濕度傳感器(qi)、環境氣壓傳感器(qi)

3、核心(xin)部件(jian)光散射傳(chuan)感(gan)器明顯消(xiao)除(chu)腔(qiang)體的雜散光，信噪比大(da)為(wei)提高。從而使測量(liang)更準確更可靠(kao)。

4、按95%置信度（UCL）計(ji)算，計(ji)數結(jie)果(guo)可換算成(cheng)m3和ft3

5、配置監管平臺，檢測(ce)結果(guo)可直(zhi)接無(wu)線(xian)傳(chuan)至平臺，進行潔凈度長短(duan)期分析，輔(fu)助管理。

6、同(tong)時支持(chi)U盤拷貝(bei)，標準USB接口，免驅(qu)動插拔。

7、內置(zhi)新一代高速熱敏打印機，可選(xuan)擇所(suo)需要打印的粒徑(jing)通道，靈活打印結果(guo)。

8、交直流(liu)兩用(yong)，內置充電鋰電池，環保耐(nai)用(yong)可支持(chi)連續采(cai)樣6小時(shi)以上。

采樣量(liang)：2.83L/min (0.1cfm)

六粒徑(jing)通道：0.3，0.5，1.0，2.0，3.0，5.0（μm）

自(zi)凈時間(jian)：≤10min

粒徑分布誤差(cha)：0.5um 5um  ≤±30%

粒(li)子濃(nong)度示(shi)值誤差：0.5um     ≤±30%

測量重復相對偏差：≤±10%

使用環境：工(gong)作環境15～35℃, 10-85%RH

采樣周期：可從1秒至(zhi)99min開(kai)始任意設定

采樣延時：≤99s

測(ce)量(liang)間隔：≤999s

采樣方(fang)式：單次(ci)、≤99次(ci)（自定）、連續

報警(jing)級(ji)別：Class100～Class300,000級(ji)(FED209E 標(biao)準)；或(huo)5～9級(ji)(ISO14464-1標(biao)準)

光(guang)源：進口(kou)半導體激光(guang)二極管(壽命大于30000小時)

屏(ping)幕顯(xian)示(shi)方式：7寸彩(cai)色觸摸(mo)屏(ping)