IN-KD3顆粒強度測(ce)定儀(yi)是一(yi)種采用先(xian)進的傳感(gan)測(ce)量(liang)(liang)技術(shu)，實(shi)現瞬(shun)間(jian)值(zhi)(zhi)顯示和(he)峰值(zhi)(zhi)鎖定的雙排數顯儀(yi)器。該(gai)儀(yi)器有體(ti)積(ji)小、測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)(zhi)直讀(du)、精度高、使用方便等(deng)優點，是催化劑、化肥(fei)、藥品(pin)等(deng)顆粒樣品(pin)聚合強度測(ce)定最理想的新型(xing)試驗(yan)儀(yi)器。

1. 測(ce)量范圍: 10～100N ，10～200N， 10～250N，10～300N，10～500N任選；

2. 顯示范圍(wei): -1999～9999小數點位(wei)置(zhi)可設；

3. 顯示分辨(bian)率: 1/10000，測量分辨(bian)率：1/60000；

4. 測定誤差:<0.5%FS ±0.1N；

5. 儀(yi)(yi)器(qi)精度為(wei)±0.02%F·S，儀(yi)(yi)器(qi)顯(xian)示設計為(wei)0.0N和(he)0.00N顯(xian)示；

6. 顆粒直徑(jing):2～25mm；

7. 靈(ling) 敏 度：0.1牛頓

8. 測量控制周(zhou)期(qi)：0.2S；

9. 電(dian)源源電(dian)壓 220V AC ± 10%；

10. 外形(xing)尺寸(cun) :220mm（L） * 210mm(W) * 260mm(H)。

1.體積小

2.測量值直讀

3.精度高

4.使用方便