簡要(yao)描述(shu): IN-GX02根(gen)系分(fen)(fen)析(xi)系統(tong)是一套用(yong)(yong)于(yu)(yu)洗根(gen)后專業根(gen)系分(fen)(fen)析(xi)系統(tong),還(huan)可以用(yong)(yong)于(yu)(yu)根(gen)盒(he)培養植物(wu)的(de)根(gen)系表型(xing)分(fen)(fen)析(xi),可以分(fen)(fen)析(xi)根(gen)系長度、直徑、面積、體積、根(gen)尖記數等(deng),功能強(qiang)大,操作(zuo)簡(jian)單(dan),軟件(jian)可分(fen)(fen)析(xi)植物(wu)根(gen)系的(de)形(xing)態分(fen)(fen)析(xi)及根(gen)系的(de)整(zheng)體結構(gou)分(fen)(fen)布等(deng),廣泛運用(yong)(yong)于(yu)(yu)根(gen)系形(xing)態和構(gou)造研究。
詳細產品介(jie)紹及(ji)技(ji)術參數
一、 儀器用途(tu):
根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)分(fen)析(xi)系(xi)(xi)統用(yong)于洗根(gen)(gen)(gen)后專業根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)分(fen)析(xi),還可以用(yong)于根(gen)(gen)(gen)盒培養植(zhi)物(wu)的(de)根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)表(biao)型(xing)分(fen)析(xi),可以分(fen)析(xi)根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)長(chang)度、直徑(jing)、面積、體(ti)積、根(gen)(gen)(gen)尖記數等,功能(neng)強大(da),操作簡單,軟件可分(fen)析(xi)植(zhi)物(wu)根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)的(de)形態分(fen)析(xi)及根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)的(de)整體(ti)結(jie)構(gou)分(fen)布等,廣泛(fan)運用(yong)于根(gen)(gen)(gen)系(xi)(xi)形態和構(gou)造研究。
二、 儀器原理:
根(gen)系(xi)分(fen)析系(xi)統(tong)利用高質(zhi)量圖形掃(sao)(sao)描儀(yi)獲(huo)取高分(fen)辨率植(zhi)物根(gen)系(xi)彩色(se)圖像(xiang)或黑(hei)白(bai)圖像(xiang),該掃(sao)(sao)描儀(yi)在掃(sao)(sao)描面(mian)(mian)板(ban)下方(fang)和上蓋中(zhong)安裝有(you)專門(men)的(de)雙光源(yuan)照(zhao)明系(xi)統(tong),并且在掃(sao)(sao)面(mian)(mian)板(ban)上預留了(le)雙光源(yuan)校準區域。此外,還配備有(you)不(bu)同(tong)尺寸(cun)的(de)專用、高透明度(du)根(gen)系(xi)放置盤(pan)。掃(sao)(sao)描時,掃(sao)(sao)面(mian)(mian)板(ban)下的(de)光源(yuan)和上蓋板(ban)中(zhong)的(de)光源(yuan)同(tong)時掃(sao)(sao)過(guo)高透明度(du)根(gen)盤(pan)中(zhong)的(de)根(gen)系(xi)樣品,這樣可以避免根(gen)系(xi)掃(sao)(sao)描時容易(yi)產生的(de)陰影和不(bu)均勻等現象的(de)影響(xiang),有(you)效地(di)保證了(le)獲(huo)取的(de)圖像(xiang)質(zhi)量。
本(ben)軟(ruan)根系(xi)分析軟(ruan)件可以讀取(qu)TIFF,JPEG標準格式(shi)的(de)(de)(de)圖像。針對(dui)獲(huo)取(qu)的(de)(de)(de)圖像,利用插入加密狗解(jie)密的(de)(de)(de)軟(ruan)件,對(dui)掃(sao)描獲(huo)得的(de)(de)(de)高質量根系(xi)圖像進行分析。采用非(fei)統(tong)計學(xue)方法測(ce)量計算出交叉重疊部(bu)分根系(xi)長度、直徑、面積(ji)(ji)、體(ti)(ti)積(ji)(ji)、根尖等(deng)基本(ben)的(de)(de)(de)形態(tai)學(xue)參(can)數。從而(er)滿足研究(jiu)者針對(dui)植(zhi)物根系(xi)不(bu)同(tong)類別和(he)層次的(de)(de)(de)研究(jiu)。
三、技術指標:
1、配光(guang)學分辨率4800×9600、A4加長的雙(shuang)光(guang)源彩色掃(sao)描儀。根(gen)系反射(she)稿幅(fu)面為(wei)355.6mm×215.9mm,透掃(sao)幅(fu)面為(wei)320.0mm×203.2mm,最小像素尺寸0.005mm×0.0026 mm。
2、可分析測量:
(1)根總長(chang);
(2)分支(zhi)頻(pin)率;
(3)根平均直(zhi)徑;
(4)根直徑中值(zhi);
(5)最(zui)大(da)直徑;
(6)根總面積;
(7)總投影面(mian)積;
(8)根總體積(ji);
(9)根尖計數;
(10)分叉(cha)計數;
(11)交疊計數;
(12)根直徑等級分布(bu)參數;
(13)可不等(deng)間距地自(zi)定(ding)義(yi)分段(duan)直徑,自(zi)動測量各(ge)直徑段(duan)長度、投影面(mian)積、表(biao)面(mian)積、體積 等(deng),及其分布參數。
(14)能進行根(gen)(gen)系(xi)的(de)顏(yan)色(se)分析,輸出不(bu)同顏(yan)色(se)根(gen)(gen)系(xi)的(de)直徑(jing)、長度(du)、投(tou)影面(mian)積(ji)、表面(mian)積(ji)、體(ti)積(ji)。
(15)能進(jin)行根系(xi)的拓(tuo)撲分(fen)析(xi)(xi),自(zi)動確定(ding)根的連接數(shu)、關系(xi)角等(deng),還能單(dan)獨(du)地自(zi)動分(fen)析(xi)(xi)任意一段(duan)根的長度(du)、面積(ji)、體積(ji)等(deng),可(ke)單(dan)獨(du)顯示標記根系(xi)的任意直(zhi)徑段(duan)相應各參數(shu)(可(ke)不等(deng)間距(ju)地自(zi)定(ding)義)。
(16)能進行根的分叉裁剪、合(he)并、連接等修正,修正操作能回退,以(yi)快速獲得(de)100%正確的結果。
(17)能用盒維(wei)數法自動(dong)測根系分形維(wei)數。可(ke)分析根瘤(liu)個數,以客觀確定根瘤(liu)菌體貢獻量。
(18)大批量的全自動根系分析,批量保(bao)(bao)存,可(ke)將整體數(shu)(shu)據匯總后(hou)保(bao)(bao)存在一(yi)個表格中,也(ye)可(ke)保(bao)(bao)存每一(yi)個根系的詳細(xi)數(shu)(shu)據。
(19)向地角分析(xi)(xi)(xi)、水平角分析(xi)(xi)(xi)提取(qu)分析(xi)(xi)(xi)特性。
(20)各分(fen)(fen)析圖像、分(fen)(fen)布圖、結果數據(ju)可保存,并輸出至(zhi)Excel表,可輸出分(fen)(fen)析標記(ji)圖。
(21)儀器有(you)云平臺(tai)支持,可將(jiang)分析數據保存到云端隨時隨地查(cha)看
(22)內(nei)置中英文雙語顯示,一鍵切(qie)換(huan),無縫對接(jie)
四(si)、圖(tu)像撲捉系統參數
掃描元(yuan)件: 6線交替微透鏡CCD
最大(da)幅面: A4
接口(kou)類型: USB2.0
光學分辨率(dpi): 4800x9600dpi
最(zui)大分辨率12800×12800dpi
最小像素尺寸≥0.005mm×0.0026 mm
掃描光源白色冷陰極熒光燈CCFL、色彩位數48位
掃(sao)描范圍216×297mm
掃描速度反(fan)射稿、A4、300dpi:單色(se)(se)11秒,彩色(se)(se)14秒
膠(jiao)片(pian)掃描、35mm,2400dpi:正(zheng)片(pian):47秒,負片(pian):44秒
五、其他
1、本產品(pin)需使(shi)用(yong)電(dian)腦,推薦選(xuan)配:品(pin)牌(pai)電(dian)腦(酷睿i5九(jiu)代以上CPU / 16G內存/ 21.5”彩顯/無線網卡,4個以上USB2.0口,運行(xing)環境Windows 10完整專業版或旗艦版)。
2、可選(xuan)配A3幅(fu)面(mian)雙(shuang)光(guang)源(yuan)彩色掃(sao)描儀。反射稿掃(sao)描幅(fu)面(mian)305mm × 431.8mm,根系透掃(sao)幅(fu)面(mian)304.8mm × 406.4 mm。