簡要(yao)描(miao)述: IN-GX02根(gen)系(xi)(xi)分(fen)(fen)析(xi)系(xi)(xi)統是一套用于洗根(gen)后(hou)專(zhuan)業(ye)根(gen)系(xi)(xi)分(fen)(fen)析(xi)系(xi)(xi)統,還(huan)可以用于根(gen)盒培養植(zhi)(zhi)物的根(gen)系(xi)(xi)表型分(fen)(fen)析(xi),可以分(fen)(fen)析(xi)根(gen)系(xi)(xi)長度、直(zhi)徑、面積、體積、根(gen)尖(jian)記數(shu)等(deng)(deng),功能強(qiang)大,操作簡單,軟件可分(fen)(fen)析(xi)植(zhi)(zhi)物根(gen)系(xi)(xi)的形態(tai)分(fen)(fen)析(xi)及(ji)根(gen)系(xi)(xi)的整體結構分(fen)(fen)布等(deng)(deng),廣泛運用于根(gen)系(xi)(xi)形態(tai)和構造(zao)研(yan)究。
詳細產品介(jie)紹及技術參數
一、 儀器(qi)用途:
根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)分(fen)析系(xi)(xi)(xi)統用于(yu)洗根(gen)(gen)后專業根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)分(fen)析,還可以用于(yu)根(gen)(gen)盒培(pei)養植(zhi)物的根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)表型(xing)分(fen)析,可以分(fen)析根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)長度、直徑、面積(ji)、體積(ji)、根(gen)(gen)尖記數等(deng)(deng),功(gong)能強大(da),操作簡單,軟件可分(fen)析植(zhi)物根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)的形態分(fen)析及根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)的整體結(jie)構分(fen)布等(deng)(deng),廣泛運用于(yu)根(gen)(gen)系(xi)(xi)(xi)形態和(he)構造(zao)研(yan)究(jiu)。
二、 儀器原理:
根(gen)系(xi)分析系(xi)統利用高(gao)質量(liang)圖(tu)形掃(sao)(sao)描(miao)儀獲取高(gao)分辨率植物根(gen)系(xi)彩色圖(tu)像或黑(hei)白圖(tu)像,該掃(sao)(sao)描(miao)儀在掃(sao)(sao)描(miao)面(mian)板(ban)下方和(he)上(shang)蓋中安(an)裝(zhuang)有專門的(de)(de)雙(shuang)光(guang)源(yuan)照明(ming)系(xi)統,并且在掃(sao)(sao)面(mian)板(ban)上(shang)預留(liu)了(le)雙(shuang)光(guang)源(yuan)校準區(qu)域。此外,還配備有不(bu)同(tong)尺(chi)寸的(de)(de)專用、高(gao)透(tou)明(ming)度根(gen)系(xi)放(fang)置盤。掃(sao)(sao)描(miao)時(shi),掃(sao)(sao)面(mian)板(ban)下的(de)(de)光(guang)源(yuan)和(he)上(shang)蓋板(ban)中的(de)(de)光(guang)源(yuan)同(tong)時(shi)掃(sao)(sao)過高(gao)透(tou)明(ming)度根(gen)盤中的(de)(de)根(gen)系(xi)樣品(pin),這(zhe)樣可(ke)以避免根(gen)系(xi)掃(sao)(sao)描(miao)時(shi)容(rong)易(yi)產生的(de)(de)陰影和(he)不(bu)均(jun)勻(yun)等現象的(de)(de)影響,有效地保證了(le)獲取的(de)(de)圖(tu)像質量(liang)。
本軟(ruan)(ruan)根(gen)系分(fen)析軟(ruan)(ruan)件可以(yi)讀取TIFF,JPEG標(biao)準格式的圖像(xiang)。針對獲取的圖像(xiang),利用(yong)插入加密狗解密的軟(ruan)(ruan)件,對掃(sao)描(miao)獲得的高質量(liang)根(gen)系圖像(xiang)進行分(fen)析。采用(yong)非統計(ji)學(xue)方法測量(liang)計(ji)算出(chu)交叉重疊部(bu)分(fen)根(gen)系長度、直徑、面(mian)積、體積、根(gen)尖等基本的形(xing)態(tai)學(xue)參(can)數。從而(er)滿足(zu)研(yan)究者針對植物根(gen)系不(bu)同類別和(he)層次(ci)的研(yan)究。
三、技術指標:
1、配光(guang)學分(fen)辨(bian)率4800×9600、A4加長的雙光(guang)源(yuan)彩色掃(sao)描儀。根系反射稿幅面為(wei)355.6mm×215.9mm,透掃(sao)幅面為(wei)320.0mm×203.2mm,最小像素(su)尺(chi)寸(cun)0.005mm×0.0026 mm。
2、可分析測量:
(1)根總長;
(2)分支頻(pin)率;
(3)根平均直徑(jing);
(4)根直徑中值;
(5)最大直徑;
(6)根總(zong)面積;
(7)總(zong)投(tou)影面積(ji);
(8)根總體(ti)積;
(9)根(gen)尖(jian)計數;
(10)分(fen)叉計(ji)數;
(11)交疊計數;
(12)根直徑等級分(fen)布參(can)數;
(13)可不等(deng)間(jian)距地自定義(yi)分(fen)段直(zhi)徑,自動測(ce)量各直(zhi)徑段長度(du)、投影面積、表面積、體(ti)積 等(deng),及其分(fen)布參數。
(14)能進行根(gen)(gen)系(xi)的(de)顏色分析,輸出不同顏色根(gen)(gen)系(xi)的(de)直徑(jing)、長度、投影面積(ji)、表(biao)面積(ji)、體積(ji)。
(15)能進行根(gen)系(xi)的拓撲分析,自動確定(ding)根(gen)的連(lian)接數、關系(xi)角等(deng),還能單獨地(di)自動分析任意一段根(gen)的長(chang)度、面積(ji)、體積(ji)等(deng),可(ke)單獨顯示標記根(gen)系(xi)的任意直徑段相應各參數(可(ke)不(bu)等(deng)間(jian)距地(di)自定(ding)義)。
(16)能(neng)(neng)進行根的分叉裁剪、合并、連(lian)接等修正(zheng)(zheng),修正(zheng)(zheng)操作能(neng)(neng)回退,以(yi)快(kuai)速獲得100%正(zheng)(zheng)確的結果。
(17)能用盒維數(shu)法自動測根系(xi)分形維數(shu)。可分析根瘤個(ge)數(shu),以(yi)客(ke)觀確定(ding)根瘤菌體貢獻量。
(18)大批量的全自動根(gen)系分析,批量保存(cun),可將整體數(shu)據匯總后(hou)保存(cun)在一個表格中,也可保存(cun)每(mei)一個根(gen)系的詳細數(shu)據。
(19)向地(di)角(jiao)分(fen)析(xi)、水(shui)平角(jiao)分(fen)析(xi)提取分(fen)析(xi)特性。
(20)各分(fen)(fen)析(xi)(xi)圖(tu)像、分(fen)(fen)布圖(tu)、結果數據可(ke)保存,并輸出(chu)至(zhi)Excel表,可(ke)輸出(chu)分(fen)(fen)析(xi)(xi)標記圖(tu)。
(21)儀器有云(yun)平(ping)臺(tai)支(zhi)持,可(ke)將分(fen)析數(shu)據(ju)保存到云(yun)端隨時隨地查看
(22)內置中英(ying)文雙語顯示,一鍵切換,無(wu)縫對接
四、圖(tu)像(xiang)撲捉系統參數(shu)
掃描元(yuan)件: 6線(xian)交替微(wei)透鏡CCD
最大幅面: A4
接口類型: USB2.0
光學分辨率(dpi): 4800x9600dpi
最(zui)大分辨率12800×12800dpi
最(zui)小像素尺寸≥0.005mm×0.0026 mm
掃描光源白色冷陰(yin)極熒光燈CCFL、色彩位數48位
掃描范圍(wei)216×297mm
掃(sao)描速度(du)反射稿(gao)、A4、300dpi:單色11秒,彩色14秒
膠片掃(sao)描、35mm,2400dpi:正片:47秒,負片:44秒
五、其他(ta)
1、本產(chan)品(pin)(pin)需使(shi)用電腦(nao),推薦(jian)選配:品(pin)(pin)牌(pai)電腦(nao)(酷睿(rui)i5九(jiu)代以(yi)上CPU / 16G內存/ 21.5”彩顯/無線(xian)網卡,4個以(yi)上USB2.0口(kou),運行(xing)環境Windows 10完整專業(ye)版或旗艦(jian)版)。
2、可(ke)選配A3幅(fu)面(mian)雙光(guang)源彩色掃描儀(yi)。反(fan)射稿(gao)掃描幅(fu)面(mian)305mm × 431.8mm,根(gen)系透掃幅(fu)面(mian)304.8mm × 406.4 mm。